지금까지 새로운 전기전자 부품소재 개발에는 고장가능성이나 제품 수명 예측을 위한 신뢰성 검증에 최소 1.4~60개월이 소요돼, 시장에 신제품을 출시하는데 큰 애로요인이 되어왔다.

이에 22일 지식경제부는 전자부품연구원과 한국산업기술시험원, 전기전자시험연구원 등에서 건의한 가속수명시험법(ALT)이 신뢰성 검증기간을 대폭 줄일 수 있는 것으로 보고, 향후 이 기법을 적극 확산시킬 계획이라고 밝혔다.

ALT는 신개발 부품소재의 신뢰성을 평가할 때 정상적인 사용조건보다 가혹한 조건에서 시험, 짧은 시간 내에 고장이 발생하도록 유도함으로써 제품수명을 빠르게 예측하는 기술이다.

그동안 국내 부품소재에 대한 적절한 시험법이 없어 제품시험기간이 길어지면서, 신제품을 적기에 시장에 출시하지 못하는 등 업계의 불편이 적지 않았다.

더구나 도요타 리콜사태를 계기로 제품 신뢰성에 대한 인식이 높아지는 상황이어서 신뢰성 시험시간도 더 길어지는 부담이 있었다.

하지만 ALT 개발로 제품 시험기간이 대폭 단축되고 신제품 개발에서 상품화까지의 기간이 줄어듦에 따라, 업계는 시장을 선점하거나 제품개발에 더 많은 시간을 확보할 수 있게 됐다며 강한 기대감을 나타내고 있다.

실제로 LCD의 ALT 개발로 관련 제품 시험기간은 15개월에서 1개월로, 태양전지의 경우에는 0.1개월로 짧아진다.

또한 중전력 LED의 온도복합모형에 의한 ALT 적용시에는 8.3개월에서 2.8개월로, 고전력 LED는 2.1개월로 줄어든다.

이 밖에도 60개월이 걸렸던 FR-4 및 BT 마이그레이션(Migration)은 전압과 재질 등에 따라 0.1개월에서 1개월 사이로 단축된다.

지경부는 지난해 58종의 가속수명시험법을 개발했으며, 올해부터는 시장 영향력이 큰 부품소재를 중심으로 시험법을 추가 개발해 확산해 나갈 계획이다.

정부는 가속수명시험법을 기업들이 적극 활용할 수 있도록 한국산업기술진흥원 신뢰성정보센터(reliability.kiat.or.kr)를 통해 관련 정보를 제공할 계획이다.